半導(dǎo)體參數(shù)測(cè)試儀的主要功能

自動(dòng)完成多路硅微條探測(cè)器中多條探測(cè)單元的I-V特性、C-V特性、擊穿特性等參數(shù)測(cè)量，無(wú)需人工一點(diǎn)一點(diǎn)的測(cè)量。其主要任務(wù)是快速高效地甄別多路硅微條探測(cè)性能，從而優(yōu)化工藝，提高探測(cè)器性能，更好的服務(wù)于核物理實(shí)驗(yàn)。上一篇： 半導(dǎo)體參數(shù)測(cè)試儀的技術(shù)指標(biāo) 下一篇： 晶體管特性圖示儀的相關(guān)概念知識(shí)