測(cè)試儀器為WQ4830
以IRFP460為例,測(cè)試條件為ID=250μA
數(shù)字存儲(chǔ)圖示儀上的“階梯偏置”功能對(duì)于測(cè)量MOSFET的開啟電壓非常實(shí)用。例如:設(shè)置掃描電源:10V;電源極性:正;測(cè)試模式:重復(fù);功耗電阻:100Ω;柵極電阻:0Ω;垂直:0.1mA/格;水平:1V/格;階梯:1V/級(jí),再設(shè)置階梯級(jí)數(shù)為2級(jí),將“掃描電源%”旋鈕調(diào)到40%左右位置,啟動(dòng)測(cè)試后被測(cè)MOSFET還不能開啟,這時(shí)慢慢調(diào)節(jié)階梯偏置,如調(diào)到+0.977V時(shí)出現(xiàn)了第一條曲線,并且該條曲線超出了250μA,則MOSFET已經(jīng)開啟,開啟電壓就是2V+0.977V=2.977V。如下圖: