自動完成多路硅微條探測器中多條探測單元的I-V特性、C-V特性、擊穿特性等參數(shù)測量,無需人工一點一點的測量。其主要任務是快速高效地甄別多路硅微條探測性能,從而優(yōu)化工藝,提高探測器性能,更好的服務于核物理實驗。上一篇: 半導體參數(shù)測試儀的技術指標 下一篇: 晶體管特性圖示儀的相關概念知識